9960.
О.и. 1089549 SU, G 03 Н 1/10
Голографический способ исследования и контроля фотоэлектретных свойств фототермопластических материалов на основе полимерных полупроводников: описание изобретения / М.Ю. Баженов, Ю.М. Барабаш, Д.А. Гринько, М.А. Заболотный, Н.Г. Кувшинский, Н.Г. Находкин, Н.И. Соколов, В.В. Теологов, Н.Г. Чуприн; Киевский ордена Ленина государственный университет им. Т.Г. Шевченко. - Заявл. 18.10.82; Опубл. 30.04.84, Бюл. № 16 - 5 с.; 210 × 297 мм.